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顯微分光光度計(jì)的基本特點(diǎn)
日期：2025-07-29 17:35
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摘要：
基于視窗結(jié)構(gòu)的軟件，很容易操作 先進(jìn)的深紫外光學(xué)及堅(jiān)固耐用的抗震設(shè)計(jì)，以確保系統(tǒng)能發(fā)揮出的性能及長的正常運(yùn)行時(shí)間 基于陣列設(shè)計(jì)的探測(cè)器系統(tǒng)，以確?？焖贉y(cè)量 低價(jià)格，便攜式及靈巧的操作臺(tái)面設(shè)計(jì) 在很小的尺寸范圍內(nèi)，多可測(cè)量多達(dá)5層的薄膜厚度及折射率 在毫秒的時(shí)間內(nèi)，可以獲得反射率、傳輸率和吸收光譜等一些參數(shù) 能夠用于實(shí)時(shí)或在線的監(jiān)控光譜、厚度及折射率 系統(tǒng)配備大量的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)及數(shù)據(jù)庫 對(duì)于每個(gè)被測(cè)薄膜樣品，用戶可以利用先進(jìn)的軟件功能選擇使用NK數(shù)據(jù)庫、也可以進(jìn)行色散或者復(fù)合模型（EMA）測(cè)量分析 系統(tǒng)集合了可視化、光譜測(cè)量、仿真、薄膜厚度測(cè)量等功能于一體 能夠應(yīng)用于不同類型、不同厚度(*厚可測(cè)200mm)的基片測(cè)量 使用深紫外光測(cè)量的薄膜厚度低可至20 ? 2D和3D的圖形輸出和友好的用戶數(shù)據(jù)管理界面 先進(jìn)的成像軟件可用于諸如角度、距離、面積、粒子計(jì)數(shù)等尺寸測(cè)量 各種不同的選配件可滿足客戶各種特殊的應(yīng)用。